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电子质谱测试

原创
发布时间:2026-03-13 14:23:42
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检测项目

1.元素组成:主元素含量,微量元素含量,杂质元素筛查。

2.痕量污染:金属杂质,离子污染物,卤素残留。

3.有机残留:溶剂残留,增塑剂残留,清洗剂残留。

4.挥发组分:挥发性有机物,低沸点组分,热释放组分。

5.表面污染:表面金属沉积,表面有机膜,颗粒污染物。

6.薄膜材料:薄膜成分比例,掺杂元素含量,层间污染。

7.焊料相关:焊料金属比,助焊剂残留,氧化产物。

8.封装材料:树脂成分,填料含量,固化副产物。

9.失效溯源:异常元素定位,污染源分析,残留物识别。

10.过程监控:来料成分一致性,制程污染测试,清洁度验证。

11.可靠性相关:迁移元素检测,腐蚀产物分析,界面反应物。

12.老化影响:热老化产物,光老化产物,潮湿老化产物。

检测范围

硅片、掺杂材料、金属溅射靶材、光刻胶、显影液、清洗液、导电浆料、焊锡膏、焊丝、助焊剂、封装树脂、环氧胶、导热材料、陶瓷基板、引线框架、连接器镀层、电子级溶剂、电容电解液、导电胶、绝缘涂层

检测设备

1.质谱分析系统:用于元素与分子组分的定性定量检测,支持痕量分析。

2.离子化发生装置:实现样品离子化,提高检测灵敏度与覆盖范围。

3.进样控制系统:稳定输送液体与气体样品,保障重复性。

4.样品前处理平台:进行溶解、萃取、浓缩等处理,降低基体干扰。

5.超净采样装置:减少外源污染,适用于微量成分检测。

6.真空系统:维持分析腔体稳定压力,提高离子传输效率。

7.离子光学系统:聚焦与筛选离子束,提升分辨能力。

8.检测器模块:记录离子信号强度,实现定量计算。

9.校准与质控装置:用于仪器校准与过程验证,确保数据一致性。

10.数据处理系统:进行谱图解析与结果计算,支持数据追溯。

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

合作客户(部分)

1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

合作客户